計画研究A02 研究分担者
山本 和生（やまもと かずお）
ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所
主任研究員
専門分野
電子顕微鏡計測、電子線ホログラフィ－、電子エネルギー損失分光法、In-situ/Operando電子顕微鏡計測
研究内容（概要）
電子線ホログラフィー（EH）と電子エネルギー損失分光法（EELS）を用いて、電極／固体電解質ナノ界面における電位分布やイオン分布（下図）を可視化する研究を行っている。
電極／固体電解質界面では半導体と同様にバンド構造が変化し、イオンによる空間電荷層が形成される。また、電圧の印加に伴いその分布も大きく変化する。In-situ/Operando EHやEELSを用いることで、その振る舞いや固体電気化学反応そのものを明らかにする。
蓄電固体デバイスの他、半導体デバイス、磁性デバイスの計測も行っている。
代表的な研究業績
関連ウェブサイト
連絡先
k-yamamoto -at- jfcc.or.jp [-at-=@]
