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計画研究A02 研究分担者

山本 和生(やまもと かずお)
ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所
主任研究員

専門分野

電子顕微鏡計測、電子線ホログラフィ-、電子エネルギー損失分光法、In-situ/Operando電子顕微鏡計測

研究内容(概要)

電子線ホログラフィー(EH)と電子エネルギー損失分光法(EELS)を用いて、電極/固体電解質ナノ界面における電位分布やイオン分布(下図)を可視化する研究を行っている。
電極/固体電解質界面では半導体と同様にバンド構造が変化し、イオンによる空間電荷層が形成される。また、電圧の印加に伴いその分布も大きく変化する。In-situ/Operando EHやEELSを用いることで、その振る舞いや固体電気化学反応そのものを明らかにする。
蓄電固体デバイスの他、半導体デバイス、磁性デバイスの計測も行っている。

代表的な研究業績

    関連ウェブサイト

    http://www.jfcc.or.jp/

    連絡先

    k-yamamoto -at- jfcc.or.jp [-at-=@]

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